Tarjetas de memoria: Principes fondamentaux de la diffraction X — 14 tarjetas

Diffraction X — phénomène ?

Déviation des rayons X par un cristal en phase constructive.

Rayonnement électromagnétique — interaction ?

Interaction par absorption, fluorescence, diffusion, réflexion, diffraction.

Longueur d’onde X — ordre ?

De l’ordre de l’angstrom, spécifique à la diffraction.

Diffraction — condition ?

Onde diffractée en phase avec l’incident, interference constructive.

Interférence constructive — principe ?

Ondes sphériques en phase, amplitudes additionnées.

Réseaux cristallins — phénomène ?

Diffraction par structures périodiques avec pics d’intensité.

Indices de Miller — rôle ?

Désignent plans réticulaires, caractérisent leur orientation.

Distance dhkl — formule ?

a / √(h² + k² + l²) dans un cube.

Lois de Bragg — relation ?

nλ = 2d sinθ, relie angle, longueur d’onde, distance interréticulaire.

Conditions de diffraction — critère ?

Chemin supplémentaire = nλ, phase cohérente.

Spectre diffraction — info ?

Distribution d’intensité en fonction de l’angle, pics liés aux plans.

Analyse spectres — objectif ?

Identifier structure cristalline via position et intensité des pics.

Indices de Miller — importance ?

Relient pics de diffraction aux plans réticulaires.

Diffraction par réseaux — dépendance ?

Angle θ, longueur d’onde λ, et indices de Miller.